工作原理
能量色散型XRF（ED-XRF）通过半导体探测器直接接收样品受激发后产生的特征X射线，按能量转换为电信号，经电子学电路处理后形成元素特征谱线。其核心在于无需分光晶体，通过探测器能量分辨率区分不同元素，实现多元素同步检测。
波长色散型XRF（WD-XRF）利用晶体衍射效应，将特征X射线按波长分散成不同谱线。样品受激发后，分光晶体将不同波长的X射线分离，探测器接收特定波长信号，结合布拉格定律实现元素分析。其核心在于分光晶体对波长的精确筛选，确保高分辨率检测。
优势边界
分辨率与灵敏度
WD-XRF采用分光晶体，可有效分离相邻元素特征谱线，分辨率更高，尤其适合痕量元素分析（检测限达μg/g级）。ED-XRF分辨率相对较低，但在高能光子范围内表现更优，且轻基体条件下检测限可达10~10²μg/g级。
分析速度与操作便捷性
ED-XRF无需更换分光晶体，可同时检测所有元素，分析速度快（60-100秒完成多元素测定），操作简便，适合生产线快速筛查。WD-XRF需根据元素选择晶体，单元素分析耗时较长（2-5分钟），但多道分析器可缩短多元素检测时间。
样品适应性
ED-XRF对样品形状无特殊要求，可直接分析固体、粉末、液体，适合不规则样品检测。WD-XRF需样品表面平整（如固体打磨、粉末压片），以确保检测精度，但制样设备易获取，制样过程标准化。
设备成本与维护
ED-XRF结构简单，功率低（<100W），无需大功率冷却系统，设备成本较低（4万−15万），维护简便。WD-XRF配备大功率X光管（1-4kW）及精密分光系统，设备成本较高（10万−40万），但使用寿命长（>10年），长期稳定性更优。
应用场景
ED-XRF：适用于工业质检、环境监测等需快速检测的场景，如塑料制品RoHS合规性验证、矿石品位在线监控。
WD-XRF：适用于科研、地质勘探等需高精度分析的场景，如土壤重金属含量测定、矿物成分解析。
